二手 SEMICS OPUS 2 #9209248 待售

SEMICS OPUS 2是在电路板或电子组件上测试各种电子元件的载体。它设计用于在工业环境中运行，适用于测试半导体器件，如晶体管、二极管、CCD、FET、SCR和集成电路。也可用于普通电阻器、电容器、电感等元件。SEMICS OPUS2 prober是为能够快速检测IC封装电气缺陷的高可靠性多探控设备而构建的。它配备了先进的光学检测系统，能够精确和无损地测量测试元件的电性能，并且能够快速识别设备级故障。利用多通道同步技术,Prober能够同时控制多达五个探针,提供行业标准的测试解决方桉来验证各种设备的性能。Prober配备了一个高性能的视觉单元，可以快速映射所有测试的组件。视觉机还捕获有缺陷的测试点的图像，可以快速识别和解决。Prober支援各类测试设备，如晶片束缚测试仪、模具束缚器、平板显示测试仪等等。可以通过连接到本地计算机或Web应用程序的集成服务器远程访问测试结果。OPUS 2 prober具有自动校准工具,可监控资产性能并补偿环境和过程条件等各种外部因素。Prober的状态监视功能确保始终在最佳参数内运行,并且自动生成报告可确保操作员能够轻松准确地跟踪测试结果。总之，OPUS2 prober是测试各类电子元件的可靠有力的工具。其先进的光学检测模型、多通道同步技术、视觉设备等功能使其能够为广泛的电子设备提供高精度测试和自动报告生成。