二手 SEMICS Opus II #293586055 待售

SEMICS Opus II是一款测试和测量半导体芯片电气特性的prober。它旨在以尽可能高的精度和精确度对半导体芯片进行可靠的电气测试和测量。它能够对放置在单个胶带或胶片和/或多层基板上的各种类型的单个模具提供准确的测试。Opus II利用各种技术，包括RF非接触式、UHV、XPS和WDX来测试非接触式探针以及一组配有图样和窗口解决方桉的晶片。该设备的设计目的是在小面积和大面积上提供高度精确的测量。使用非接触式探测能够对芯片进行非接触式测试，降低半导体芯片表面或机械损坏的风险。它还通过最大限度地减少接触区域和潜在的电弧，帮助减少错位和表面污染的风险。SEMICS Opus II由SINGLS （Single and Large Surface, Surface and Large Surface） Probing系统提供动力，该系统使用非接触式和基于接触式技术的组合来测试探针。该单元允许对多个样品层和晶片进行并行探测，从而实现更准确、更高效的测试。此外，机器有一个自动晶片处理工具，允许自动采样和加载晶片。资产还使用校正后的框架来测试多达三种不同尺寸的曲面,从而实现更准确、更快速的测试。Opus II有一个集成分析套件，提供分析和评估半导体芯片电气特性的综合工具。该套件包括光谱、光谱成像、测量分析工具等功能，均可用于确定半导体芯片的电气特性。此外,该模型还提供了跟踪查看功能,使用户能够快速分析其测量结果并分析结果。SEMICS Opus II是用于测试和测量半导体芯片电气特性的多功能、功能强大的Prober。它旨在为半导体芯片提供可靠的测试和测量，具有很高的精度和准确性。该设备还具有自动化装载和测试能力，以及用于数据分析和评估的综合分析套件。该系统适用于复杂的测试应用，是高级测试要求的理想选择。