二手 SEMICS Opus II #293592875 待售

SEMICS Opus II是一款专为广泛的半导体制造工艺提供晶圆测试和探针卡测试的prober。它是一种全自动设备，能够测试大型晶片并对小型模具几何形状进行精确操作。它使用了环保、高精度的力调节器，以及一个伺服驱动的级，用于精确和速度控制的运动。该系统具有先进的探测能力和安全特性,非常适合高性能产品生产和工艺优化。Opus II具有先进的接触单元，旨在对晶片精确施加压力，同时避免任何标记或损坏。它能够同时提供多站点探测和扫描，以及高精度的S/N和电气测试分析。机器使用分辨率高达0.2-1 um的精细间距模式,以确保高保真数据。它还与一系列常规探针和探针卡兼容，包括多达64个站点的可编程探针。SEMICS Opus II有一个可靠的空气轴承驱动级，在X-Y和Z两个轴中移动。这使得工具在测试过程中能够快速准确地将晶片定位在螺旋桨上。资产的集成变高视觉模型进一步提高了晶圆定位操作的精度。它还具有用于探测的高速粘合器、用于对准的激光视觉以及用于精确封装测量的多模具温度管理设备。Opus II能够测试多种材料的性能，包括金属、陶瓷和SOI电路。它还能够提供电力MOSFET、线性形式和集成电路的电气测试。该系统的机器人臂允许快速、精确地将模具放置在螺杆上，其集成的过程控制确保探针卡的性能一致。最后,SEMICS Opus II的设计考虑了较高的安全标准。它具有防静电外壳和防止触电的电气安全机构。其电机速度控制和自动停止装置进一步保证了晶片和生产线内工作人员的安全。该单元还易于安装和使用，使其成为各类半导体和电子制造工艺的理想解决方桉。