二手 SEMICS Opus II #293606570 待售

SEMICS Opus II是一款用于测试各种半导体器件的电气参数学的全功能生产工具。Prober的特点包括精确的运动控制能力、智能测试设备、自动探测和模式选择以及晶圆映射能力。凭借强大的模块化设计,Opus II prober可以轻松配置和重新配置,以用于各种设备参数测试应用程序。SEMICS Opus II具有精确运动控制功能,精度高达0.5 μ m。这允许精确定位和探测多站点测试结构。它还配备了先进的晶圆映射能力，能够准确定位设备位置并进行高速探测。结合高通量测试协议,Prober可实现高达每小时25个晶圆的高生产率。用户友好、直观的prober界面允许轻松编程、执行和配置测试。它还支持广泛的测试协议，包括T&B和NAKED TTL。内置自动化系统进一步简化了测试设置和执行过程，提供了更大的灵活性。此单元可以自动检测探测器类型,并根据特定的测试应用程序选择正确的探测模式或操作协议。此外,Opus II prober还具有可靠的数据验证、分析和存储功能。机器存储测试后生成的数据,以后可以使用可调UI进行验证和分析。测试、结果和程序文件都可以在prober的内存中进行备份,从而方便数据传输和与其他系统共享。SEMICS Opus II prober是一款可靠、功能齐全的测试仪器，旨在满足当今半导体器件制造商的需求。Prober凭借其卓越的性能和通用的操作工具,非常适合进行高精度晶片测试,为客户的设备质量保证过程提供了可靠且经济高效的解决方桉。