二手 SEMICS Opus II #293644080 待售

SEMICS Opus II是专门针对高级晶圆检验的苛刻要求而设计的prober。Prober集成了高精度运动和流体控制、高级成像和自动化功能。它能够处理范围广泛的晶圆尺寸，从直径小至1mm到大至12英寸。它还具有一个集成视觉系统，可以检测到高达0.05微米的缺陷，使其成为检查最复杂纳米结构的可靠和准确的工具。Prober使用自给自足的操作系统和用户友好的图形界面进行操作,从而便于进行高效的晶圆检查。它配备了一个可调的级，允许样品移位和定位，使得可靠的晶圆对准和定位为精确检查。它还配备了专用的对准和转向系统，为每个样品的测量位置提供快速准确的导航。Prober具有强大的成像系统,利用异常清晰的分辨率以及一系列对比和敏感性,能够准确验证微米级特性。它的全光谱照明和先进的光学器件提供了被检查晶片的三维图像，提供无与伦比的洞察晶片缺陷。Prober还具有集成的FOUP（前开口统一窗格）,允许安全可靠的样品处理。它还配备了CCD摄像头、液晶触摸屏和集成热控制器，提供可靠的数据采集和可重现的结果。Prober还包括几个软件程序来管理和自动化示例处理和分析。这些程序包括易于使用的程序编辑器,它允许快速创建自定义数据收集协议以及自动统计数据分析。Opus II是精密晶片检测的完美工具，为先进的纳米技术提供了最可靠、最精确的晶片检测能力。它为可靠的晶圆检测提供了全自动、高通量的解决方桉,非常适合晶圆验证、缺陷分析、过程评估和产品开发。