二手 SEMICS Opus II #293706514 待售

SEMICS Opus II是一个先进的探测平台，作为半导体器件表征和故障分析的强大工具。利用最新的测试和探测技术,Opus II能够准确测试最新的半导体技术。它是一个全面的平台，允许用户以无与伦比的精度水平设计、调试和测试多达24个高达500 MHz的晶圆探测器站点。SEMICS Opus II提供了一系列功能来满足低压和高速应用的需求。对于低电压应用，Opus II支持多种直流精确探测技术，如低电压增益（LVG）和低泄漏电流（LVC）探测。探头平台还提供用于测试高压设备的最先进的电路内隔离（I2）和高压隔离（HVI）。而且，SEMICS Opus II提供了差异探测功能，允许用户检测甚至最微妙的信号完整性问题。Opus II除了具有低电压和高速功能外，还提供了一系列功能测试功能。这些包括寄生虫表征、时域波形测量、测试吞吐量分析和热分析。凭借其先进的缺陷检测和隔离功能，SEMICS Opus II是识别和隔离即使是最难以捉摸的设备缺陷的强大工具。此外,来自SEMICS库的一组工具增强了Opus II。这些工具使用户能够快速开发探测策略和调试过程，以及自动生成测量程序。SEMICS Opus II符合不同的自动测试模式生成（ATPG）标准,因此可以快速高效地生成和编程测试模式。这反过来又提高了测试过程的效率，并允许在生产测试中缩短周期时间。综上所述，Opus II是一种用于半导体测试和调试的多合一解决方桉。它为当今先进半导体器件的高保真、高速测试提供了必要的工具和功能。借助高级探测功能、同步功能测试功能和一套SEMICS库工具,SEMICS Opus II为测试和调试任务提供了无与伦比的精度和效率。