二手 SEMICS Opus II #293714774 待售

SEMICS Opus II是下一代prober，设计用于在自动化晶圆测试应用中测试高级设备。它提供了满足下一代晶圆测试应用的挑战性要求的能力。与半导体测试中使用的现有平台相比，Opus II改进并扩展了功能。SEMICS Opus II是提供高吞吐量、高灵活性的高级Prober。设计中包含的机制可确保准确的设备一致性特性。Opus II采用VXI控制器和用于测量设备电气和光学参数的高级测试测量仪器。设备以统计置信度准确测量装置特性。SEMICS Opus II prober配备了先进的电气测试系统，利用最新技术和仪器对设备参数进行精确测量。电气测试单元集成了定制探针、定制打孔卡以及广泛的应用特定测试仪器。自定义探测器提供与设备接触板的直接接触,而自定义打孔卡减少了执行测试所需的周期数。该机器还配备了光学测试仪器，如照相机和激光器，以进一步分析半导体器件。光学测试可以对器件进行进一步的表征，如模具和晶片图，并以高精度进行全晶片测试。此外，该装置还配备了温湿室，用于测量环境条件对装置性能的影响。Prober的集成软件套件为测试结果的综合分析提供了高级功能。软件套件包括几个模块,如prober控制、测试测量、分析和数据存储。软件可以配置为满足应用程序的要求，还包括使用prober的教材。Opus II prober是测试下一代先进半导体器件的有效工具。设计具有先进的特点，能够准确测量设备特性，确保对测试结果进行精确分析。集成软件套件提供了一系列功能,包括prober控制、测试测量、分析和数据存储。该软件还易于配置以满足应用程序要求。Prober适用于多种晶圆测试应用，包括高级设备。