二手 SEMICS Opus II #293731357 待售
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SEMICS Opus II是一种设计用于硅片探测测试的prober。该装置利用非接触式定位技术和精密机械元件，准确高效地探测半导体晶片表面。Opus II专为支持最先进的晶圆探测要求而设计，如电源和模拟芯片设备的集成高级测试和验证。SEMICS Opus II机器由高级控制器、运动控制器和可编程软件构建，用于控制选定探测器的移动方向。该机器可以定制以支持广泛的测试要求，包括模式探测和电气参数测量。该设备具有高分辨率的光学系统，可用于精确扫描成像，用于对准探针，以达到最大精度。该机装有精密探头和可调底板，用户可以调节晶圆对准角度。另外，集成视觉系统提供芯片布局的图形显示，以精确对准探针。探头提示可以进一步定制,以适应客户的特定要求。除了实时定位和精确扫描能力外，Opus II还能够进行并发测试，从而实现更快的测试吞吐量和更高的收益率值。该设备还具有强大的连接选项和以太网通信协议以及外部系统的兼容接口。SEMICS Opus II附有一系列安全功能，例如防止静电放电造成的损坏、红外辐射和气体供应。总体而言,Opus II是一款功能强大的产品,具有多种先进的特性和功能,非常适合测试和验证现代硅片制造。它能够进行快速、精确的测试和验证，同时提供可靠性和鲁棒性，以确保高测试效率。它的模块化设计使其易于使用，并且设备的模块化允许在需要时进行快速的重新配置和定制。
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