二手 SEMICS Opus II #293731359 待售

SEMICS Opus II是SEMICS开发的用于测试半导体晶圆和集成电路芯片的先进prober。它提供探测和验证组件的功能,释放设备的全部潜力。该设备拥有一套独特的工具，用于快速准确的测试、测量、分析和优化。这些工具包括全彩色视频显示、多层探测软件、高级吞吐量prober控制器以及数据采集和分析系统。Opus II单元配备了强大的吞吐量prober控制器，专为快速、准确、可靠的晶圆探测操作而设计。其模块化的设计和用户友好的操作员界面使其使用变得简单。其高效的晶圆探测机制消除了电接触不良的情况，能够支持同时探测多个晶圆位置。SEMICS Opus II机还配备了高分辨率多层探测软件。这一工具使用户能够在半导体晶片或集成电路芯片上快速探测超过一万个测试点，并可以验证设备几何形状的完整性。软件支持各种测量和分析任务，允许用户评估组件行为和可靠性。该工具还具有先进的数据采集和分析资产。该模型能够从多层探测软件收集数据，同时提供分析、绘制图形、报告和控制评估过程的能力。它旨在实现最大的测试覆盖范围,并最小化评估组件的时间。设备还支持各种故障隔离技术，如模式匹配和时间切片。最后，Opus II系统配备了全彩色视频监视器，使用户能够观察设备行为和实时prober动画。这种实时可视化有助于理解设备行为和开发改进的探测策略。总体而言,SEMICS Opus II是一个先进的、易于使用的prober单元,能够快速准确地进行测试、测量、分析和优化。其用户友好的操作员界面、多层探测软件、吞吐量prober控制器、实时可视化机为用户提供了准确有效地探测半导体晶片和集成电路芯片的能力。