二手 SEMICS Opus II #293732452 待售
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SEMICS Opus II是一款用于在检查各种半导体器件时提供无与伦比的精确度和灵敏度的产品。它采用U形探针框架，能够同时探测四个器件，是大容量晶圆探针操作的理想选择。它完全配备了各种用于晶圆处理、弹射和对准的自动化系统，以及用于快速、精确测量的车载自动归零。此外，这种技术的进步还可以归功于其强大的专利，这些专利尚未得到SEMICS的综合软件包。微光学技术允许在每个探头上方和下方投射光图样，照亮使用中的探头。这样可以确保每次接触和测量时都采用平稳和统一的方法。Opus II被设计为可与多种探针配合使用，例如空气叶片、激光探针、硬凝胶和弹簧叶片探针。它的自动补偿系统有助于减轻非理想的接触条件,从而能够准确可靠地测量高精度的测量结果。SEMICS Opus II具有各种测量类型，包括宏观探测、零度探测和多测量探测。它还具有统计质量控制、S参数分析、线性响应分析、频率响应、功率限制分析和噪声图形分析等多种数据分析工具。除了高效、准确的操作外,Opus II还得益于其直观的用户界面,该界面具有响应灵敏的彩色触摸屏、图形强调选项和一系列易于访问且可自由配置的按钮。Prober还支持多种内存选项,分别为32、64和128 GB。所有这些特性结合在一起，使SEMICS Opus II成为任何大容量晶圆探测操作的理想选择。
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