二手 SEMICS Opus II #293811437 待售

SEMICS Opus II是为制造和测试各类半导体元件而设计的下一代prober。它提供精确、高输出精度和吞吐量规格,适用于生产和工程环境。Prober由四个主要模块组成：prober body, chuck （s）, control box, and video instruction system.Prober机体带有负压卡盘、可拆卸的护栏、可调节的负载支撑以及便于维护的电缆管理。卡盘在设备和探头之间提供了坚固的机械连接。它为最大接触和安全连接提供正压,不需要额外的接触力。控制箱由一个微控制器、电源和通信系统组成，用于控制控制器。最后，高分辨率的500万像素彩色相机允许自动光学质量，或AOQ，检查以确保质量控制和高效操作。此外,Opus II还具有多种自动化功能,包括用于最佳接触和精确探测力的Z轴补偿、自动夹具识别和选择、组合Z轴自动调整以及自动模具分类。这样可确保无论模具厚度或几何形状如何,操作都是一致的。它还支持多种探针和技术，包括悬臂探针、弹簧尖端探针和磁化探针。SEMICS Opus II还可以提供经济高效的IC测试和表征，因为它支持用于设备表征、参数测试和故障分析的多种软件解决方桉。这有助于确保一致的流程质量和可重复性。Opus II具有广泛的功能和强大的功能,是高效、准确的IC测试的理想选择。