二手 SEMICS Opus II #293831128 待售

SEMICS Opus II是一种扫描电子显微镜（SEM）prober设备，设计用于测试和探测高频模拟电路。它能够在包括硅、砷、玻璃在内的基板上测试直流和多MHz射频电路。该系统包括一个精密表面倾斜平台，一个高精度XYZ采样级，一个以4 rpm速度旋转的索引工具卡盘，以及一个包括信号源、探头、多功能开关、定向耦合器和集成RF放大器在内的全RF单元。Opus II具有用于测试高频元件的高能电子束，并显示出使用高分辨率光编码器实现纳秒域脉冲宽度的高度稳定和精确的对准能力。它还能够测试高达1.5 GHz的设备，为各种材料如氮化铝（AlN）、氧化铝（AlOx）、聚酰亚胺（PI）提供出色的表面质量。此外,机器可以使用可选的自动扫描速度控制从1.5 μ m/sec到333 μ m/sec生成多个扫描速率。该工具配有加热的样品级和真空接口单元，用户可以进入高真空条件，还包括设备处理和接近传感器的操纵器。该资产采用紧凑的设计,易于设置和安装,并且包含的软件使操作员能够轻松控制和监控模型操作。凭借其自动化功能，SEMICS Opus II可以以高达0.040%的信号准确率运行。总体而言，Opus II是一种高端扫描电子显微镜设备，为高频设备和基板上的电路提供准确和可重复的测试。其紧凑的设计使其易于安装，其坚固的功能允许用户在几分钟内进行高精度探测。利用其自动化功能,用户可以快速轻松地监控操作。