二手 SEMICS Opus II #9119446 待售

SEMICS Opus II是一种先进的技术prober，用于接触、非接触、IC元件和半导体晶圆缺陷分析。Opus II专为高精度和可重复性而设计,可准确快速地检测和辨别晶圆表面以及电线和接触垫上的微小缺陷。SEMICS Opus II在温度控制的环境中运行，具有先进的光学和源对齐功能以及获得专利的晶圆定向系统。Prober的光学系统包括可变对焦变焦镜头和压电XYZ级，允许技术人员手动调整变焦镜头和晶圆上的探头位置。除了其高分辨率光学外，Opus II还配备了先进的接触式和非接触式传感器，能够以极高的速度检测结构中看不见的缺陷。传感器能够拾取甚至很小的结构缺陷，例如电路密度的变化。Prober还结合了高分辨率CCD相机和高灵敏度红外相机。CCD照相机可以捕捉到高达800万像素大小的图像,而红外照相机可以拾取轻微缺陷区域发出的微小温度变化。对于故障排除和调试,SEMICS Opus II包括一个非常宝贵的测试套件,可提供有价值的统计分析、故障检测和计算机模拟故障分析。Prober的最新数据采集和分析功能可提供实时更新。Opus II旨在快速识别与产品相关的缺陷,帮助降低产品成本、减少生产停机时间和提高产品质量。