二手 SEMICS Opus II #9184457 待售

SEMICS Opus II是用于探测先进半导体电路的最先进的prober。它能够进行广泛的探测和测试操作，最大分辨率为25纳米。该设备配备了125 um Omnimatrix TM探针卡,具有机载视觉和映像功能。它具有具有专有光子束的精密采样级和先进的自动化特性。有了24 "x 24"的工作区域，Optus II可以探测大型设备，如片上系统（SoC）设计，先进的光学器件在模具两侧提供高分辨率探测能力。Optus II能够探测各种类型的设备,包括高引脚数IC、堆叠模具配置、MEMS设备、TSV软件包和Cu/Si/G/ckt软件包。它的自动校准减少了手动对准时间，并导致探针损伤最小化。探头使用双镜头光学系统进行自动光束聚焦和对准。它还支持自动探针校准和坐标对准，用于精确的信号采集和可靠的测试结果。Optus II能够为半导体器件提供准确、可重复的测试,而操作员的参与程度最低。它的自动化测试和探测功能可以节省宝贵的时间并减少人为错误。该单元还支持高级自动化功能，如可编程探针和自动停止。这减少了对手动探测操作的需求,并实现了对半导体器件的快速、自动化和精确探测。Optus II的自动光学扫描功能允许卓越的分辨率和缩小探测服务范围。这意味着提高了结果的灵敏度和准确性。它还具有低噪声、高精度的探测和测试能力，从而产生可靠的测试结果。该单元能够以单模或多模模式运行，为大批量生产运行提供灵活性。Opus II是一款功能强大的prober，非常适合进行高级探测和测试操作。它具有125 um Omnimatrix TM探针卡,可提供卓越的分辨率、低噪声、可重复测试和高级自动化功能。Optus II拥有24 "x 24"的工作区域，可以探测大型设备，如片上系统（SoC）设计，自动光学扫描功能允许更精细的探测服务和更准确的结果。Optus II非常适合探测高引脚计数IC、堆叠模具配置、MEMS设备、TSV封装和Cu/Si/G/ckt封装,而操作员的参与却很少。