二手 SEMICS Opus II #9236854 待售

SEMICS Opus II，来自SEMICS International，是一个用于半导体器件探测和测试的自动化探测器。该工具旨在优化和简化当今高速半导体器件所需的严格测试和验证过程。Opus II将许多经过验证的先进技术结合到一个模块化平台中。Prober的基本单元提供了高效的样本处理和运输设备,使用户可以快速探测在任何测试配置中设置的设备。战略性地放置真空卡盘和静电卡盘,可在顶部和底部测试装置上提供安全零件固定的快速工具访问,同时确保每次都有可靠的电气接触。该系统还具有大型空白磁带倒带功能,允许同时使用多个测试方桉。探测单元包括四个不同的探头,每个探头针对特定的探测应用进行了优化。"触地得分"头是一种高速接触模式的主力,可确保与高密度、小信号的可靠接触,而"CAE"头则针对多达1000个触点的无接触探测进行了优化。"噩梦"头非常适合在路由复杂的设备上进行深度接触模式探测。最后，"开拓者"头被设计为以其高功率开关技术测试高速外部信号和高密度互连设备。此外，SEMICS Opus II的优化控制机保证了快速测试速度和高吞吐量。通过几个自动化的程序，工具载体可以被精确地移动到测量位置，或者在探测过程中实时监控。该工具随附的软件包包括一个完整的测试音序器，因此用户可以快速创建自动化的测试序列，可以控制在特色运营商上的生产测试。最后,Opus II的开放式体系结构允许集成到自动化生产线或测试系统中。Prober的接口选项包括各种通信协议,如GPIB、RS-232、USB、以太网等。工具的其他有用的提高生产力功能包括数据库同步、OCR识别、标签打印以及PC控制的温度室、热卡盘和低温卡盘温度控制等独特功能。总体而言,SEMICS Opus II是一种功能强大且高度先进的prober资产,它将设备探测和测试提升到一个全新的水平。它将先进的探测技术与灵活、开放的体系结构和高效的测试控制相结合,以确保在广泛的应用中获得最高的测试准确性和效率。