二手 SEMICS Opus II #9280522 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS, Inc.它是一种智能的自动晶片检测和探测设备，旨在简化质量保证测试的过程。它能够以较高的准确率和速度检测样品中的轻微缺陷和污染。该系统还配备了多通道prober，可以测量接触电阻、电流、电压、开关时间、接触力、通道分离和接触角等多个参数。Opus II非常适合各种应用,包括晶圆映射、设备表征、故障分析和质量保证测试。利用二维标记感应算法检测晶圆表面是否存在金属或有机污染。该单元在验证硅晶片的清洁度时可提供准确的结果，也可用于测试集成电路元件。它还能够测量全晶片上的接触电阻。SEMICS Opus II配备了先进的安全功能。将探测器编程为在超过力阈值时停止测试,并将其设计为防止发生电过压（EOS）情况。它还能够检测电干扰。该机设计小巧轻巧，便于从一个位置移动到另一个位置。其直观的用户界面允许快速、轻松的操作。它的自动化功能减少了操作员完成测试任务所需的时间。Opus II非常可靠和一致。它具有良好的性能、可重复性和较长的校准时间范围,是开发和生产晶片测试的绝佳选择。总体而言,SEMICS Opus II是一个非凡的工具。它极其准确可靠，价格极具价值。对于生产和研究实验室来说，这是一个不错的选择，因为它可以提供精确和可重复的测试结果。其简单的用户界面、先进的安全特性和卓越的性能使其成为满足许多晶圆测试需求的理想解决方桉。