二手 SEMICS Opus II #9284012 待售

SEMICS Opus II是用于制造集成电路（IC）模具的电气、结构和成像测量的指示器。Prober是一种高通量、精密的设备,具有溷合扫描/手动操作,集成了手动探测和自动化或扫描功能,可快速验证测量结果,并减少开销。该系统旨在满足现代半导体制造商的苛刻要求，如制造、开发、检验等。为了实现这些高精度和高速度,Opus II采用了多种技术组合。该单元包括一系列硬件组件，如运动舞台、摄像机和测量探针，以及用于监视和控制硬件的高级软件。SEMICS Opus II的运动阶段能够在X、Y和Z方向上精确运动，可以配置为生成各种模式和路径用于自动探测。四个线性伺服轴用于扫描和探测，以及点对点测量。台阶的运动与自动探测同步，以确保准确性和可重复性。该机器包括四个用于监测、成像和测量的高分辨率摄像机。高级算法用于精确检测探测器并确定其位置。照相机还可用于探测后检查模具，并生成它们的高分辨率图像。Opus II还包括一系列探测器来进行各种测量。这些探头包括微欧米表、电容表、电压寄存器和电阻表。这些探头可以进行电气和光学测量。SEMICS Opus II还有一个直观的用户界面，旨在使其易于使用。该工具使用向导快速设置每个按钮，方便在模式之间切换，处理多种语言提示，并提供各种帮助提示。该资产还得到来自不同供应商的各种应用程序的支持。Opus II是模具制造者的一个强大的推进器。它的自动化功能能够快速准确地进行测量,并且其软件方便用户且直观。它在硬件和软件之间保持平衡,非常适合开发和生产环境。