二手 SEMICS Opus II #9284013 待售

SEMICS Opus II是为晶圆级设备的高性能测试和调试而设计的高端prober设备。它的设计考虑到了可扩展性、自动化和高精度。Prober系统由高度精确的全自动探测级组成，旨在测量精度高达0.1微米的小特征。Prober单元配备了大量用于收集温度、电压、光信号等数据的先进传感器。Prober machine also features a various of precision measurement meturation methods, as electrical, optical, and thermal probection as a whole array of endited equipment for automated micro-etching, laser etching, and CMP.所有这些特性在晶圆级IC测试中非常有益，有助于准确揭示微妙的设计误差和设备微观结构。Prober工具还能够进行自我校准和远程诊断。在这种模式下，它可以监视和纠正任何自发错误，确保其所有结果保持高度准确和可重复。Prober资产的自动化方面还允许对多个晶片进行并行快速评估，大大减少了测试每个晶片所需的时间。此外，多种DUT类型的支持使得Opus II非常适合广泛的应用。SEMICS Opus II也有几项先进的能力，例如能够与其他系统整合，例如自动化设备，让它在多个行业部门工作。它还有一个集成的数据分析套件，它对设备测试结果提供极其详细和通用的分析。这允许从设计过程开始就完全识别任何设计缺陷或故障。Opus II是一种高度先进的prober模型，适用于广泛的应用。该设备的功能使其成为寻求最大限度地提高晶圆级调试过程速度和精度的IC工程公司的绝佳选择。