二手 SEMICS Opus II #9284014 待售

SEMICS Opus II是一种高端、灵活、高度精确的计量工具。它是为半导体工业中先进的探测和测量操作而设计的。该工具包括两个主要组成部分：一个全自动、多传感器的实际扫描仪和一个用户友好的软件设备。软件模块是一个嵌入式、基于Windows的平台，与实际扫描仪相连，执行实时数据捕获和控制支持。应用套件配备了多种配置选项，如多车道运行的实时设备重新定位，延迟探测，以及逻辑验证。它的用户友好界面允许快速、轻松的设置和高效的数据管理。实际的扫描仪是以3轴定位平台与5轴驱动单元构建的半自动、半活动系统。平台允许自动扫描预定义的曲面,同时还允许手动调整和校准正在测试的对象上的特定部件或位置。高分辨率CCD相机和X射线源成像有助于导航和分析从每个位置获取的任何数据集。该机器不仅可以测量半导体晶片表面的大小和平坦度，还可以从每一个不同层捕获计量和迭加值。Opus II提供的各种测量功能由几种不同的高端指标和工具支持,例如：自动车道测量、噪声分析器、部分迭加监测和基于探针的缺陷测量。所有这些计量工具都能帮助工具准确准确地测量和分析其结果。SEMICS Opus II是半导体行业中最先进、用途最广泛、最精确的计量系统之一。它是用于测试和开发下一代半导体产品以及创建安全集成电路设计的关键工具。凭借其高端技术和全面的计量功能，Opus II使得大幅降低制造成本和提高生产速度成为可能。