二手 SEMICS Opus II #9302521 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS AT Ltd.开发的高性能prober，允许对电子元件的特性和物理特性进行高级测试。它能够快速探测和测量各种半导体和MEMS应用中使用的材料和组件。Prober是由多个元素组成的模块化系统，包括样本表、数据采集系统、软件和可选的机械臂。它可以同时测量多达20个不同的电气和机械连接,使用快速的切换速度和一次测量多个连接的能力。此外,Opus II的精确运动控制算法使其能够对具有多种材料、形状、大小和布置的样品进行干净、准确的探测和分析。SEMICS Opus II采用模块化结构设计,由通过电缆和适配器卡连接的多个部分组成。此模块化结构允许灵活性和可扩展性,允许用户根据需要添加其他组件和功能,并根据需要切换出现有部件。此外，它的刚性工业级框架和螺母和垫圈的设计使得一个可靠的机器具有长期的稳定性。直观的图形用户界面便于操作,并允许自定义测试序列,而其自动自校准系统可确保准确性和一致性。为了补充其众多功能,Opus II还提供了多种高级测试选项。它能够执行一系列机械测试,如球剪切应力、拉力测试、扭转扭矩和拉力/压缩力。此外,还可以进行高级热测试,包括加热/冷却热冲击、浸泡后、热坡道和数字热成像。其先进的电气测试包括欧姆接触电阻、泄漏和多频阻抗分析。SEMICS Opus II是用于各种用途的理想工具,它是用于高级机械和电气电子元件测试的高性能处理器。Opus II具有模块化结构、可定制性和高级测试功能,是一种适用于复杂且要求苛刻的应用程序的多合一解决方桉。