二手 SEMICS Opus II #9380526 待售

SEMICS Opus II是一种进步的、高性能的prober设备，用于像半导体和MEMS这样的批量生产高精度设备。它是一个经济高效、基于PCI的测试和探测系统,旨在降低成本,同时提高速度和准确性。该探头的核心特点是其交流/直流锐化探头和波长扫描技术。Opus II能够精确检测线宽到0.1 μ m,并自动对准其探头。该装置采用独特的高分辨率光学对准机，利用两个摄像头。这使得prober能够识别和定位精度为5 μ m或更低的设备阵列特征。此外，这种光学对准工具允许在螺旋桨和器件基板之间有很小的间隙，从而允许非常精确的探测。集成在资产中的AC/DC尖锐探针技术允许最大探测深度为5 μ m,精度高达1 μ m。Prober的光学对齐模型还提供了样本模式的精细分割，以检测甚至最小的特征。这样可以进行精确的探测,从而确保高产量的设备生产过程。SEMICS Opus II设备的一个关键特点是高速,它配备了一个高功率嵌入式处理器,每秒可执行高达1.5亿个DSP操作。此速度允许prober提供快速的数据采集,扫描速率高达100 kHz。然后可以使用集成软件导出和分析系统获取的数据，以进一步优化探测过程。该设备提供多种I/O选项,包括四个USB端口、HDMI、千兆以太网、RS 232和以太网,以及16个数字信号处理通道。这使机器非常通用,提供多种连接选项,使其适合各种应用程序。此外,Opus II还为许多最流行的操作系统提供直接支持,从而可以集成到各种工业环境中。最后,SEMICS Opus II prober工具是一种经济高效的高速测试和探测解决方桉,它提供了一系列的功能,使其适合广泛的应用。此资产非常适合生产高精度设备,提供对样本模式的精细分割以检测最小的特征。此外,该型号的集成I/O选项和广泛的连接解决方桉使其成为一种用途广泛且功能强大的支持设备。