二手 SEMICS Opus II #9383805 待售

SEMICS Opus II是一种自动化晶圆prober and metrology设备，为半导体的测试和表征提供了大量的能力。该系统利用机器人技术和自动化方面的最新进展,为大批量生产测试需求提供了一个全自动解决方桉。Opus II单元为包括闪存、DRAM、ASIC、MCU和EPROM在内的各种半导体器件提供了一套全面的测试和表征功能。机器由三个主要组成部分组成：一个机器人装置、一个自动搬运装置和一个测量站。机器人装置将晶片移动到分析站和从分析站移动。它还处理来自真空夹紧工具的晶片转移、晶片进行对准的随机定位以及晶片往返计量站的移动。自动处理单元负责晶圆在整个资产中的连续流动，并配有故障检测模型。此功能对于自动系统识别生产过程中可能发生的任何晶圆相关故障至关重要。最后，计量站由两种工具组成：一种用于获取表面拓扑数据的激光散射仪和一种用于绘制晶片图样表面的扫描电子显微镜。SEMICS Opus II旨在适应各种现有生产线,具有广泛的集成选项和大量高级控制功能。这包括使用先进的计算机控制的晶圆处理技术，以实现平稳操作和低粒子生成。这些计算机控制的方法可以定制，以满足各种标准，以适应用户的特定需求。计量站采用定制的半导体专用软件平台，提供一系列测量和分析功能。对于大型生产运行,由于提高了测试的可重复性和吞吐量,此设备的高准确性和可重复性大大节省了成本。此外,Opus II可以检测晶片随时间的细微变化,确保产量保持较高水平,并拒绝那些不符合质量标准的晶片。该系统还符合所有特定于半图标的安全标准，为其用户提供可靠和安全的工作环境。总体而言,SEMICS Opus II是一个多功能的晶圆测试和计量单元,它通过为半导体器件的测试和表征提供经济高效的解决方桉来简化生产过程。