二手 SEMICS Opus II #9383808 待售

SEMICS Opus II是一种用于半导体生产线的prober。它旨在快速、准确和精确地创建设备,并对其进行多层处理。Prober是一个全自动系统，使用接触扫描探针显微镜、先进成像系统等多种工具，以及微探针、电化学电位探针等机器。这些工具允许进行各种各样的检查、分析和行业标准测试。Opus II prober提供了满足特定生产要求的特定功能。它提供了晶片与探测阶段的自动定位和精确对准、机器人晶片处理和晶片可移动载荷。机器人晶片处理系统在封闭的环境中运行，允许晶片卡盘和扫描探头之间移动。接触扫描探针显微镜采用多种先进成像技术，提供22纳米分辨率和2.5纳米垂直图像分辨率。SEMICS Opus II还利用一个可伸缩的探头尖端耦合到一个专门的校准装置来精确测量表面电位。这允许对材料和/或设备进行无损检测。此外,prober还能够自动分析存储的图像,以识别和表征组件或缺陷。自动化机器还能进行电阻、电流、电压、IMD、电流泄漏、高压、热分析等电路测量。这种先进的螺旋桨设计用于制造和生产半导体零件。Opus II为元件和材料的高速测试提供了最佳平台。它提供全面的自动化晶片加载、处理和分析功能,可以跟上苛刻的生产量。Prober的设计采用了通用的功能集,能够处理和测量生产中的组件。它能够分析存储的图像并执行自动测量,为元件和材料的高速测试提供了一个绝佳的平台。