二手 SEMICS Opus II #9407027 待售

SEMICS Opus II是一款用于测试和检查封装设备（如内存和逻辑集成电路）以及其他具有平坦表面和高长宽比连接器的设备的prober。它是一种自动化的晶圆探测器,能够快速、准确、可靠地进行样品检查。该探头包括四个位置扫描阶段和一个精确的弯曲引导阶段，用于样品的尺寸不超过200毫米，高度不超过500米。它具有高速运动控制,能够实现高达20 µm的定位精度,从而实现快速的样品对准和定位。Prober利用先进的视觉技术和自动晶圆对准，从而能够更快、更准确地验证样品。Opus II prober还具有多种探测解决方桉,包括接触、无手套或红外探测功能。此外，该装置还配备了可调光学显微镜和成像系统，提供高分辨率成像能力，能够检测微小的缺陷。此外,Prober还具有内置的自我诊断功能,可监视操作参数并提醒用户注意任何问题。这样可以确保可靠的性能和快速的故障排除。此外,该系统还包括用于简化坐标编程的SEMICS专有软件,以及功能强大的编辑例程,以及对数据分析和导出的支持。为了极致安全,SEMICS Opus II prober提供了多种安全升级,包括用户友好的访问端口、自动紧急关闭开关和ESD保护。