二手 SEMICS Opus II #9407030 待售

Semiconductor SEMICS Opus II Prober是一个功能强大的半导体高级探测和测试系统。它旨在测试晶片级和封装设备以及晶体管和二极管。该系统可提高电路性能、提高产量和节省成本。Prober具有多种电子元件和功能，包括受控温度环境、高精度探头、探头放置微操纵器、可编程半导体测试参数和嵌入式测试软件。其温度范围为-50至+120摄氏度，精确分辨率为0.01摄氏度。Prober的高级探头精度为0.03 μ m,支持高达1GHz的高频探测。此外，它还配备了世界领先的操纵系统，以保证在半导体测试过程中准确、可重复地放置探针。Prober还提供了广泛的自动化测试功能，包括晶圆模式识别、故障的3D映射、全电压和电流报告、完整的表面扫描以及基于悬臂的高速测试。它的灵活性和准确性使得即使是最复杂的设计也能得到有效的测试。此外，Prober可以用适当的最小和最大模模延迟序列对4、5、6和8串基板进行序列处理。此外,它还可以编程多级别测试策略,每个测试级别中最多有两个子级别。总体而言，半导体Opus II Prober是半导体测试和探测的有效解决方桉。它具有高度可靠、准确和高效的特点,可降低产品成本并确保高产量。Prober的自动化测试能力、先进探头、柔性温度范围和可编程测试参数的结合，使其成为任何半导体测试和探测需求的完美选择。