二手 SEMICS Opus II #9407037 待售

SEMICS Opus II是由sMicron开发的半导体分析prober。它是一种高端、量产的解决方桉，旨在精确测量现代生产线中半导体晶片和芯片的电性能。其先进的设计使其成为市场上最可靠、最准确的探针之一。Opus II由各种组件组成，使其能够精确测量各种电气特性。其核心部件包括晶圆处理设备、晶圆探测系统、光学单元和对准机。晶片处理工具设计用于在探测站和光学资产之间安全移动晶片。该模型还具有先进的精密传感和控制能力，以确保精确放置晶圆。晶圆探测设备提供了一贯的高精度。它具有先进的Z级和X-Y级,探测力范围从500 μ N到10N,探测力精度为0.1 μ N。Z级还配备了一套可互换的触点，以适应各种不同的探测技术。光学系统是SEMICS Opus II prober的核心。它具有两个数字显微镜，可以独立使用或一起使用，以详细捕捉晶圆表面的图像。该单元还使用集成扫描仪检测异常点缺陷和检查。Opus II的对准机也被设计为提供高精度。它使用自动对准工具来精确确定晶圆相对于其探测表面的对准。此资产最多可存储10个对齐方式,非常适合高效执行多个测量。SEMICS Opus II prober是提供精确电气测量的先进模型。它具有直观、用户友好的界面,使操作员能够在生产环境中快速准确地测量和分析晶片。该处理器的设计是为了满足在大容量半导体制造业务中实施的需要。