二手 SEMICS Opus II #9407038 待售

SEMICS Opus II是一种用于表征微电子元件的电气参数和机械稳定性的高性能仪器。它结合了先进的精密级、压电电机和支持连接的技术以及可扩展和灵活的探针卡设计。Opus II prober能够在高达25 µm的运动范围内进行高精度±定位,以及在更大的运动范围内进行高速运动。它还允许同时进行电气和机械测试,同时减少测试时间。Prober配备了强大、快速的控制系统，允许操作员轻松配置、编程和控制prober，让操作员在测试过程中完全控制所有参数。此外,该探头还具有广泛的先进特性,如保证探头和针脚冷却的连续空气流动,以及确保与被测装置准确可靠接触的悬挂式探头卡设计。SEMICS Opus II还具有通用的应用程序库和可编程自动化控制功能，以进一步提高测试速度和准确性。该库允许用户针对特定的测试要求开发自定义程序,从而实现手动控制和自动测试操作。对于其他信息,Opus II包括各种数字可视化、处理和分析工具,包括信号监控、信号分析和日志记录,这些工具使用户可以查看其测试过程的有效性。这有助于确保在整个测试过程中准确监控和控制所有测试条件。因此,SEMICS可以保证正在测试的设备可靠、可靠且符合所有规格。总体而言,SEMICS Opus II Prober是一种经济高效的方法,可以一次测试和表征多个组件,从而减轻人员和设备的负担。此外,它的可编程性和可配置性有助于最大限度地提高效率并最大程度地减少设备停机时间,从而使企业能够降低总体成本。