二手 SEMICS Opus II #9407040 待售

SEMICS Opus II，由SEMICS Co.Ltd，是一种专业且高度精确的综合计量工具，用于检查和分析所有类型的曲面。它旨在满足汽车、航空航天等研究和工业部门的需求。Opus II设备包括两个组件；主仪器和包含传感器模块和附件的附件套件。主仪器由一个安装有单独传感器模块的基本单元组成。该模块包含一个光学测量单元以及各种用于精确测量的功率放大器和传感器。它装有用于控制其操作和数据处理的软件。SEMICS Opus II可用于表面表征、表面整理、磨损分析、污染分析和腐蚀分析。金属和非金属的表面检查，可以很容易地使用该系统。它能够测量微观尺寸的表面特征。高速实施有助于快速调查大面积区域,否则需要进行多次测试测量。此外,还可以使用自动特征识别来定义感兴趣的曲面特征。为了表征表面，Opus II使用了一系列测量参数，如表面粗糙度、表面衍射、表面浮雕、局部高度均匀性、局部斜率、波长和空间频率。使用机载优化和分析仪软件,该设备非常精确,具有极好的可重复性和可重复性。此外,SEMICS Opus II旨在实现最大的灵活性和可升级性。传感器类型可以轻松切换。该仪器可配备各种可选附件，如实时图像拓宽和平滑功能、用于测量表面变形和模拟的3D和Mat跟踪、用于聚焦和受限测量的放大功能以及用于详细温度分析的高精度温度计。总之，Opus II是一种用途广泛但功能强大且可靠的表面检查和分析机器。其令人印象深刻的一系列功能使其成为所有类型计量应用程序的理想选择。