二手 SEMICS Opus II #9407041 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS GmbH生产的多用途、多通道表面分析prober。它设计用于扫描电子显微镜、俄歇电子光谱、X射线光电子光谱、离子束映射和深度剖析等广泛的表面分析应用。Opus II提供了一个先进、用户友好的多通道平台,适合任何研究或生产环境。SEMICS Opus II具有模块化设计，允许用户根据所需的应用程序向平台添加不同的分析组件。Opus II的主要成分包括可控制的气态气流，用于表面暴露，容纳不同样本量的样本级，以及连接不同探针的多个通道。该系统可以独立操作,也可以远程控制。SEMICS Opus II能够高精度地对曲面和接口执行高分辨率的调查。利用三维（3D）图像重建技术，可以从扫描电子显微镜（SEM）、超微切片（ultramicrotome）、扫描隧道显微镜（STM）等不同探针获取高分辨率图像。这使用户能够轻松快速地扫描3D样本并分析收集到的数据。除了3D成像，Opus II还有广泛的分析探针可供选择。这些包括俄歇电子光谱（AES）、X射线光电子光谱（XPS）、粒子诱导X射线发射（PIXE）、二次离子质谱（SIMs）等等。这些探针旨在为用户提供对样品曲面的透彻和详细的分析。SEMICS Opus II系统的控制器是一个直观且易于使用的软件程序。它使用户能够配置和控制平台的多个分析通道,以及创建自定义分析协议。该软件还包括解释和报告所收集数据的工具。Opus II是一种可靠且用途广泛的表面分析工具,非常适合任何范围的分析应用。从基本的表面表征到先进的生产和研究应用，它为用户提供了一致可靠的最高质量的结果。