二手 SEMICS Opus II #9407044 待售

SEMICS Opus II是专门为大批量生产和工程开发测试半导体器件而设计的prober。该设备特别适合于晶圆形式的参数特性测试和测量，能够以极具成本效益的外形尺寸提供极高的探测精度。Opus II的功能列表以其高速、多站点的prober开始,能够在四个不同的站点上同时执行多达8个并行触点,每个站点都可以跟踪高达20K的数据参数以进行引脚级别的计量。系统的样品处理单元使用基于盒式盒式磁带,可容纳多达600个尺寸从3"到8"的晶圆。Prober还支持手动和自动加载,使其非常适合生产、工程和研发应用。SEMICS Opus II还具有完全集成的晶圆处理和测试站，具有高精度测量机。此工具具有高分辨率的大格式成像子系统,可快速检测测试区域,并使测试站点和prober联系点准确对齐。Opus II还具有25个站点的步进电机,可确保平滑、可重复的接触以及受控的电气负载和测试几何形状。SEMICS Opus II也非常适合分析晶片中的参数特性，因为它具有一整套参数测试，如脉冲IV测试、HFSIV测试和参数公差测量。该资产还支持多参数测量，为用户提供半导体器件性能的全面概述。Opus II还具有先进的用户友好型GUI,可轻松导航复杂的测试环境,并可快速导航至所需的测试和测量。此外，该模型还提供了先进的实时统计过程控制以及一套可定制的审查和统计报告。在设备性能方面,SEMICS Opus II设计用于2GHz的可靠性和高速吞吐量以及高达53MB/s的数据传输率。当与多个站点和高引脚计数一起使用时,该设备能够每小时管理多达10000个测试晶片。Opus II是大批量生产、工程开发和半导体器件测试的首要推动者。SEMICS Opus II结合了可靠、高速的性能和全面的功能集,为快速可靠地测试半导体器件提供了经济高效的解决方桉。