二手 SEMICS Opus II #9407045 待售

SEMICS Opus II是用于晶圆探头和测量应用的多功能、光学控制的prober。它具有先进的光学控制系统，能够进行极其精确和可重复的探测，公差范围可达0.1微米。Prober配备了自动插槽识别的5轴机械臂和高速、3-D电动舞台等一系列高端部件。这样可以提高晶圆探测、测试和测量操作的稳定性、准确性和速度。此外，prober利用先进的视觉系统，以确保可重复、可靠的探测结果，具有很高的准确性。Opus II的软件套件允许广泛的操作，包括探测点的匹配、间隙校准、探测位置的调整以及高级图形显示功能。SEMICS Opus II的用户能够对自己的探测模式进行编程，并可以使用预先配置的用户友好系统来管理他们的探测。它还具有温度控制外壳,可进行更一致的测量,以及简洁、简洁的设计,便于探头定位。Prober能够检测晶片上最优秀的特性，使其成为半导体制造和其他精度、重复性和精度至关重要的应用的理想选择。适用于处理多种不同的基板，包括液晶、薄膜盘式驱动器、硅芯片和电气元件。这使得Opus II成为一种用途极为广泛的工具,能够帮助在制造现代半导体器件的整个过程中促进广泛的过程。