二手 SEMICS Opus II #9407046 待售

SEMICS Opus II是一款先进的Prober,它提供了一种高效、经济高效的IC芯片诊断、调试和表征方法。它是参与IC芯片开发和制造的工程师的重要工具。Opus II prober由基础机、prober head和智能prober卡组成。基机是一种高速、温度控制的计算机，运行高级软件来控制prober和管理数据收集。Prober head are designed to transfer and locating chips at every position in its field of view, and takes track of tested pins of all chips.智能prober卡允许在prober头上的任何位置发送和感应多个信号。SEMICS Opus II prober设计为具有高精度和重复性的探测。它具有0.04 µm的XY分辨率和0.2µm的Z分辨率，使亚微米探测最小的集成电路互连成为可能。高度自动化的过程需要最小的设置,并且能够同时处理多个芯片并以每秒500个以上的位置进行探测。Opus II prober的实时反馈消除了探测IC（集成电路）参数的任何猜测。其深入的表征和分析功能为工程师提供了有关芯片性能的即时反馈。它复杂的内置算法使工程师能够识别任何异常并诊断根本原因。此外，它的测试数据收集特性提供了对芯片稳定性的深入洞察，允许通过更好的数据质量进行早期设计优化。SEMICS Opus II prober使用简单,并有出色的客户支持和培训支持。它的模块化设计使得它成为一个可定制的工具，可以适应半导体公司的特定需求，为他们节省时间和金钱。总体而言,Opus II prober提供了一个可靠、方便且经济实惠的解决方桉来测试和表征IC芯片。