二手 SEMICS Opus II #9407051 待售

SEMICS Opus II是为商用半导体晶圆探测应用而设计的prober。它是一种自动化的、完全可编程的设备,可用于任何设备结构或封装的电气和机械测试。Opus II能够以低至0.3微米的分辨率进行接触和非接触探测。它可用于探测、故障排除和设备表征,以及晶圆级电气测试。SEMICS Opus II的主要部件包括一个prober控制单元、一个自动探头、一个高分辨率显示单元和一组外围仪器。Prober控制单元充当系统的大脑，负责提供电源、控制探针和执行程序命令。它通过灵活的高速通信和控制电缆连接到探测器。自动探头设计用于移动和定位探头尖端,使其与被测设备或特征接触。探头具有很高的柔韧性,可以编程为在所有轴上移动。它由基于微处理器的运动控制单元驱动。显示单元包含高分辨率彩色显示，用于实时显示测试结果。周边仪器包括显微镜、干涉仪、计量探针、激光探测器和高频测试设备。Opus II使用在prober控制单元上运行的专有软件包。该软件包含一个指令集，旨在允许用户快速定义、测试和报告晶圆探测过程。该软件使用户能够创建自定义探测器并分析序列、导入/导出数据,并提供通过Internet远程访问和操作SEMICS Opus II的功能。Opus II由精密元件组成,设计得非常坚固可靠。该设备在1级2级危险地点获得安全操作认证,包括方便用户的安全功能,例如端口锁,以防止意外进入机械设备。这确保了其操作员的安全。SEMICS Opus II是商业和研究应用的理想载体。它结合了精度、鲁棒性、灵活性和用户友好的特性，是晶圆测试和探测的理想选择。