二手 SEMICS Opus II #9407052 待售
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SEMICS Opus II是晶圆测试和质量分析的探索者。它在半导体工业中用于在制造过程之前、期间和之后探测和测试小型设备。这提供了有关其生产和设计的有用反馈,支持更准确的质量控制,消除不正确的产品,以及更好地优化生产过程。Opus II是一种高度通用的prober,能够进行多站点晶圆探测和测试,以及具有实时温度感测、直流和射频测量以及其他各种配置测试和测量的4D晶圆映射。SEMICS Opus II具有多达56个阶段的晶圆映射,可以对每个晶圆位置进行详细分析而无需任何运动,与传统方法相比大大减少了测量时间。Opus II还配备了先进的自动化,如自动校准和测试程序创建。Prober可以连接到与AI技术集成的模块SEMICS inspector。这使测试人员能够快速识别测试结果的质量及其与预期结果的偏差。SEMICS Opus II还配置了与计量系统的兼容性,允许进行各种晶圆测量,如临界维度、数据记录和绑定。此外,其先进的模具对齐和模式对齐能力适用于一系列的测量任务。Opus II配备了符合人体工程学设计的人机界面,以清晰的图标和图形提供直观和用户友好的操作。通过这种方法,用户可以轻松控制和配置各种组件以满足其测试要求。此外,系统还设计了手动操作覆盖,允许在需要时完全控制测试过程。简而言之,SEMICS Opus II是一种高性能可靠的prober,适用于生产过程中的多晶圆测试和质量分析。凭借其先进的自动化、符合人体工程学的设计以及与计量软件的兼容性,它可用于广泛的任务,为高效晶圆测试和质量控制提供了绝佳的解决方桉。
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