二手 SEMICS Opus II #9407055 待售

SEMICS Opus II是一种可重新配置、用途广泛且先进的探测和表征设备,旨在对各种样品进行精确测量。该系统提供全面的探测单元技术，如垂直扫描、接触成像和物理计量。该机配有电荷耦合器件（CCD）和CMOS传感器，用于图像捕获、图像识别和分辨率分析。其他功能包括可动态调节的级、可旋转的X-Y-Z级、用于对象操作的自动化工具和用于控制多个探针尖端的多路复用器。Opus II对于接触和非接触测量都具有很高的准确性。它提供了广泛的标准和可定制的探测功能，包括推进剖面仪、AFM、力曲线传感、剪切力显微镜、电扫描和机械接触模式探测。该资产具有测量各种物理特性的能力，包括表面地形（接触和非接触AFM）、机械特性（力-距离曲线）、电性能（电容和电阻率）以及摩擦和微压痕等其他特性。模型还提供高级分析功能，如CoF测量、表面粗糙度计算和统计。它还提供了一个软件平台，用于复杂的数据管理和分析，包括自动化数据监测和数据分析。SEMICS Opus II非常适合广泛的应用，从基础研究和教育目的到过程降解评估和故障分析。这种设备非常适合研究硬质表面和生物材料的实验室，以及那些需要接触计量和无损检测的实验室。