二手 SEMICS Opus II #9407057 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS（Samplers and Electron Microscopy Instruments Corporation）设计开发的prober。主要用于半导体器件探测应用。Opus II prober旨在提供精确的设备探测和准确的测试结果。它具有很大的工作区、符合人体工程学和节省空间的外形尺寸，以及具有大量测试算法的高级软件包。SEMICS Opus II中的工作区为设备探测和测试提供了充足的空间，主设备或晶圆的最大空间为1000 x 200 mm。多用途运动阶段，包括双轴臂和探头定位系统，提供精确的装置操纵和定位。探头支架的快速释放特性使探头可以轻松高效地更换,而不必停止测试周期。在外形规格上，Opus II以符合人体工程学形状的小设计为特色，适合紧凑位置。它的低调也将干扰和系统损坏的可能性降至最低。此外,USB型端口可确保安全高效地传输测试结果和分析数据。最后，安全接地系统通过消除静电放电或电气短路的风险，确保人员安全。SEMICS Opus II中的软件由一套广泛的测试和分析算法组成。它具有测试设备操作和测量关键参数的内置功能，如电气性能、热响应、可靠性和噪声水平。它还包括设备文件的自动加载和扫描、探针数据的3D成像和显示以及测试结果的图形可视化的例程。综上所述，Opus II是为半导体测试应用而设计开发的一款功能强大的prober。它具有较大的工作区域、符合人体工程学的设计以及具有多种测试和分析算法的高级软件包。因此，它是一种高度通用的prober，适用于广泛的探测应用。