二手 SEMICS Opus II #9407059 待售

SEMICS Opus II是一款高性能、多功能的prober，设计用于对包括半导体、IC封装和图像传感器应用在内的基板进行高通量、高精度的探测。Opus II平台为各种基板（包括3D和100 mm晶圆比例基板）提供可靠且可重复的结果。SEMICS Opus II具有倒置设计，允许高水平的基板可访问性和易于操作。OpusII Prober凭借其获得专利的SHM调制控制技术,确保了基材加工的高可重复性、准确性和效率。Prober配备了多种探针，包括横向和垂直的SCM探针、MEMS探针、IC芯片探针和IC封装探针，在测试基板时提供了更大的灵活性。Prober还兼容常见的测试软件程序，兼容行业标准。为了确保可靠的结果，SEMICS Opus II prober包含了许多内置的安全功能。其空气轴承运动控制系统允许平稳、精确的运动传递，消除了测试时基板意外损坏的风险。集成的6轴动态对准系统进一步提高了结果的准确性和可重复性，prober的刚性框架最大限度地减少了振动和热漂移，从而提高了性能。此外,prober还具有一个用户友好的界面,可以更轻松地访问所有功能。它直观的显示和控制使操作员易于监视、控制和调整测试参数。Opus II还包括全面的数据捕获和跟踪功能，允许用户快速查看和分析结果。SEMICS Opus II prober非常适合各种测试要求,提供可靠、准确和可重复的性能。它强大的设计、内置的安全功能、易于操作和全面的数据跟踪功能,使其成为满足任何半导体测试要求的理想选择。