二手 SEMICS Opus II #9407063 待售

SEMICS Opus II是用于电气测试和探测应用的多功能prober。设计用于制造、设备调试和故障分析。Opus II能够快速、准确地访问引脚,从而提高了测试结果的可追踪性,缩短了调试时间。它可以处理各种样本量，可以用在任何基板上，从简单的板子到更复杂的装配。SEMICS Opus II的核心组成部分是其整合室。这提供了一个封闭的环境，并配备了真空发生器，使得测试低噪声水平的组件或射频信号等敏感设备成为可能。这是测试和调试周期短的组件的一个很好的功能。Prober配备了可以高达600kHz的速度移动的双集成多指头。双指头与微探针插座兼容，使Opus II成为探测高针数基板的可行解决方桉。Prober还支持自动检查系统，带有嵌入式CCD单元，可以识别、定位和测量基板上的所有组件。例如,它可以检查尺寸测量、高度、位置和裂缝。SEMICS Opus II有24种不同的尖端形状，使得测试基板元件的线性和矩阵阵列成为可能。由于直观的OOS软件可用于根据您的需求调整Prober,因此Prober易于使用。该软件还可以对设置和测试操作的自动序列进行编程,从而实现准确且可重复的测试。Opus II是一种高度可靠的prober,可用于各种探测和电气测试应用。内置腔室确保所有测试都在低背景噪声环境下进行，而双指头允许对基板进行膨胀探测。集成检测机和直观的OOS软件使SEMICS Opus II操作简单，效率极高。