二手 SEMICS Opus II #9407065 待售

SEMICS Opus II是一款prober-tester，为先进的嵌入式半导体内存设备提供高吞吐量、全自动制造测试解决方桉。它被设计为直接与质量测试环境接口，允许它作为Product-In-Wafer （PIW）或Fab-in-Fab （FIF）生产流程的一部分串联使用。Opus II平台以SEMICS先进的基于Kontron的计算体系结构为基础,其模块化设计方法允许为各种半导体制造测试和应用创建专门的配置。凭借双核2双核CPU, SEMICS Opus II具有足够的功能和能力,可为用户提供可靠而强大的解决方桉,用于全自动测试台操作。Opus II测试台具有多种功能，如具有高精度自动喷嘴的探针以及在线测量和可编程自动化。这允许用户快速准确地测试设备，以及执行复杂的测试例程和提供单独的零件级测试数据。此外，SEMICS Opus II prober-tester还附有直观的用户界面，设计方便快捷的操作。它既可用于晶圆分选和表征，也可用于最终设备测试，使其成为大型和小型生产运行的绝佳选择。Opus II还具有对多台设备进行并行测试的能力，从而提高了生产吞吐量，减少了每台设备的时间。此外,SEMICS Opus II具有集成的实时缺陷管理系统,使用户能够检测和管理他们在测试中发现的任何可能存在缺陷的半导体设备。这为他们提供了快速可靠的设备性能反馈,使他们能够做出明智的决策并在必要时采取纠正措施。总体而言,Opus II prober-tester是一个功能强大且可靠的测试平台,它提供了一套全面的功能和高级功能,使其成为半导体制造测试应用的理想选择。