二手 SEMICS Opus II #9407067 待售

SEMICS Opus II
製造商
SEMICS
模型
Opus II
ID: 9407067
Wafer prober.
SEMICS Opus II是一个自动化的prober,设计用于测试广泛的电子设备。Prober具有极高的精度、速度和可重复性,使其在性能和成本效益方面成为业界领先的探针之一。Prober能够以高达150微米/秒的速度探测,位置精度高达10微米,使其成为高速测试和生产应用的理想工具。Prober配备了一系列传感器、执行器和数据采集系统,使其能够自动化测试过程并收集准确可靠的数据。它获得专利的机械级使它能够在探测多个位置时快速安全地覆盖大面积。Prober还具有一系列用于控制测试过程和收集信息的高级自动功能,如图像处理和数据分析,以及用户友好的图形用户界面。Opus II prober能够执行各种探测和测试任务,从精细间距探测到组件级和板级测量。Prober能够同时探测和测试多个引脚、护垫和接触点,同时有多达8,000个接触点用于探测、测试和成像应用。SEMICS Opus II还提供了广泛的特定于用例的附件和附件,如多位置和高分辨率相机、探头、力传感器,甚至晶圆级。这些附件和附件可以连接到prober,以提供更多的功能,进一步增加可以进行的测试范围。Prober非常可靠,使用寿命长,并提供了一系列功能和自定义选项,以确保它满足特定的要求和应用程序。该专家还得到一个由高技能专业人员组成的团队的支持,他们可以提供指导、技术支持和持续维护服务。因此,Opus II是用于测试各种电子设备的出色自动化处理器。
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