二手 SEMICS Opus III SH #293804328 待售
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ID: 293804328
晶圆大小: 8"-12"
优质的: 2019
Prober, 8"-12"
Previously docked to WINTEST WTS-577 Tester
Direct docking
Ambient to hot temperature
CE Certified
No interface
Manipulator for Wintest tester
2019 vintage.
SEMICS Opus III SH是为半导体测试和高级研究应用而设计的尖端prober设备。这种高性能的prober系统提供精确的控制和测量能力，对于评估半导体器件的性能和可靠性至关重要。Opus III SH模型是SEMICS Opus系列的一部分，以探测技术的卓越精度、速度和灵活性着称。SEMICS Opus III SH prober单元的核心是其先进的探测机制，它允许与被测半导体器件（DUT）高度精确和可重复的接触。机器具有多自由度的电动舞台，包括X、Y和Z平移，以及theta旋转。这使探头能够以微米级精度定位探头尖端,从而确保与DUT的粘合垫或测试点的最佳接触。Opus III SH prober工具的关键特性之一是其高速探测能力,这对于测试功能日益复杂且数据速率更高的现代半导体器件至关重要。资产配备了先进的控制算法和运动反馈系统,能够在各种设备类型和测试条件下进行快速可靠的探测。这种高速探测能力对于测试信号完整性和定时至关重要的高频设备，如射频和微波组件特别有用。除了探测速度外，SEMICS Opus III SH prober模型还提供了出色的测量精度和可重复性。设备配有高分辨率位置编码器和先进的校准程序，确保精确的探头对准和接触力控制。这种精度水平对于表征器件性能参数（例如阻抗、电容和泄漏电流）具有可信度和可靠性至关重要。Opus III SH prober系统的另一个重要特点是探测灵活性和适应性。该单元支持多种探针卡配置,包括单探针、多探针和悬臂式探针,以适应各种DUT大小和布局。此外,prober与各种探测技术（如垂直、水平和角度探测）兼容,以解决不同的测试要求和挑战。SEMICS Opus III SH prober machine也是为了便于使用和集成到半导体测试环境中而设计的。该工具具有用户友好的图形界面,使操作员能够轻松编程测试序列、设置探测配置以及实时监控测试结果。Prober还配备了先进的自动化功能，如机器人晶片装卸，以简化测试过程，提高整体生产率。总而言之,Opus III SH是一项最先进的支持资产,为半导体测试和研究应用提供卓越的性能、准确性和灵活性。SEMICS Opus III SH Prober模型具有高速探测能力、精确的测量精度、探测灵活性和用户友好的界面,为半导体制造商和研究人员提供了他们所需的工具,以便有效地评估其设备的性能和可靠性。
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