二手 SEMICS Opus III #293608191 待售

SEMICS Opus III Prober是一个高性能、多控制器的单元，设计用于在晶圆芯片上探测和测试集成电路（IC's）。为晶圆表征、ATE测试和制造测试提供了快速、准确的结果。Opus III Prober配备了高速处理器和先进的软件算法，以优化探测精度，缩短晶圆测试所需的时间。其独特的伺服控制系统有助于确保随着时间的推移可重复测试结果。Prober还具有多种高级接口和增强的探测功能,使其可用于不同类型的测试系统。Prober设计用于快速准确地分析不同类型的电路，确定几个特性，如电压、电流、电阻和电容。该设备能够在短短几秒钟内扫描晶片，非常适合大型生产运行。其先进的光学器件允许精确和可重复的测量。SEMICS Opus III Prober还具有灵活的配置，允许用户自定义自己的测试需求。它与广泛的测试处理系统兼容，可以与几种类型的处理程序结合使用。该设备最多可配置八个磁头,从而能够更快地进行测试并提供更多的样品。Opus III Prober采用可靠、低维护和用户友好的软件平台。该软件的用户友好图形界面允许用户根据自己的需要快速调整设置。用户还可以使用软件创建自定义测试并生成详细报告。SEMICS Opus III Prober是一款高度可靠和高效的Prober，非常适合测试广泛的集成电路应用。其先进的功能和强大的软件使其成为芯片制造商和需要快速准确晶圆测试结果的测试工程师的绝佳选择。