二手 SEMICS Opus III #293610401 待售

SEMICS Opus III是一种专为高级测试而设计的prober，如晶圆探测、SAW设备探测和新的封装探针测试。它是用于电路、功能和生产级别测试的经济高效且高性能的解决方桉。Opus III是支持多个SAW设备包的无损检测平台，包括T-LIC、LGA、BGA和WLCSP。它采用轻巧的模块化设计,便于安装和配置。此prober可与现有装配工作站和计算机结合使用,从而实现更快、更高效的探测。此外，通用的prober可以被定制，以适应任何项目的具体需求。Prober配备了直观的用户友好界面,便于导航不同的测试选项。包含的软件能够创建自定义测试和存储结果,并能够以易于访问和有组织的方式分析从测试中收集的数据。SEMICS Opus III还拥有较高的测试精度和可重复性，以及低噪声性能。它的接触探针可以深入PCB和晶圆设计，就像手动探针工具一样，提供更高的精度水平。此外，探针提示可以快速轻松地改变，使得整体测试过程更快、更高效。总之,Opus III是一个动态的prober解决方桉,对于许多不同的应用程序而言,它是一个可靠、经济高效且易于使用的选项。可以高效地完成复杂的测试任务,同时确保测试的准确性和可重复性。无论是用于内联还是独立设置，SEMICS Opus III都是功能强大且可定制的探针测试工具。