二手 SEMICS Opus III #293631659 待售

SEMICS Opus III是一种测试半导体晶片和器件的载体。它是一个高度可配置的系统,具有许多功能,非常适合测试大容量、大规模的半导体工艺。它具有独特的前瞻性数据采集系统,使其能够在测试晶片属性时快速检测到晶片上的错误和缺陷。该机器是一个扫描电子显微镜（SEM）链接各种探针。这些探针可以在实时和静态测量中测量样品的电气、光学和其他特性。Opus III可靠、准确、对多种缺陷模式敏感。它可以用于基本测试和高级测试,确保在整个制造过程中保持质量保证。Prober可以编程为生成晶圆映射以进行缺陷分析。它还配备了一个粒子计数器，用于检测和识别样品表面存在的各种粒子。这有助于确定晶片的最终质量并检测晶片上可能存在的污染物。SEMICS Opus III也具有模式识别的能力，使它能够识别晶圆上存在的不同缺陷模式。此功能有助于快速检测缺陷的不同变化,从而能够快速准确地检查样品。再者，机器有几个信号捕获通道，允许信号并行记录，减少了完成一个测试周期所需的时间。Opus III的能力在设备制造和包装等众多应用中得到了测试。其性能一贯可靠，确保了生产过程中的最大性能和质量控制。它还与许多流行的行业标准兼容，包括J-STD-001（Semiconductor Devices Standard），这使得它成为要求苛刻的测试条件的理想选择。