二手 SEMICS Opus III #293644079 待售

SEMICS Opus III是用于晶圆表征、模具分选和缺陷分析应用的综合prober设备。它既可靠又准确,为广泛的应用提供了高级测量功能,如晶片级表征和评估、芯片级成像、封装测试以及故障和缺陷定位。Opus III通过其关键功能提供高效、经济高效的自动化和生产产量优化。该系统由三个主要组成部分组成：一个分析器、一个分析单元和一个诊断工具。这台机器的核心是晶片级、头部和手写笔。晶片级设计用于在测量过程中精确定位晶片,探头包含可用于执行物理和电气测量的探针阵列。手写笔允许用户精确测量晶圆上的不同点。分析工具允许用户使用图形用户界面（GUI）配置和运行自动测量。它用于收集晶片级图像，获取电气特性和创建晶片图，以便进一步诊断和解决缺陷。资产可以异常测量最小的细节，在晶圆上的不同点之间快速移动，节省时间和辛勤工作。诊断工具支持用于脱机故障分析的图像或软件。它包括从绘制测量数据、抽查预定义位置到报告等几个功能,以利于进行调查。使用此工具可以轻松识别导致模具故障或性能故障的缺陷。为了保证高精度，该型号采用了非常精确的闭环伺服控制设备。它具有闭环运动控制的精密级，并使用编码的X、Y和Z轴提供晶圆的精确定位。探头设计用于提供精确的电气测量,并自动校准自身。SEMICS Opus III是最可靠的prober系统之一,是半导体制造和芯片测试过程的理想选择。该系统具有先进的精确度和精确度，可实现高效、经济高效的自动化和生产产量优化。