二手 SEMICS Opus III #293663242 待售

SEMICS Opus III prober是一个全面且精密的晶片测试平台，旨在允许测试各种硅片，包括但不限于、CZT、绝缘体硅（SOI）、厚膜陶瓷、聚酰亚胺基板。该方法以电容耦合反馈（CCF）设计为基础，利用12个电极组成的阵列来强制测试和生成要收集和分析的数据。这是通过在电极上施加电势来实现的,以便检测探头下方是否存在设备的信号。Prober还附带了进行全面缺席/存在测试所需的软件,以及单个设备和基于区域的测试。凭借其软件和独特的设计,系统能够快速准确地检测短路、打开、部分部分连接的设备,甚至极小的故障。它还提供可选的校准,当对设备的配置进行极小的更改时,可以提高准确性和精度。Opus III还能够打印出正在测试的基板的图像,这样工程师不仅可以准确了解正在发生的事情,而且还可以直观地检查和研究晶圆测试过程中可能出现的任何问题。此外，SEMICS Opus III还配备了一个用于低泄漏和可重复性晶片测试的高真空探测室。该室具有多种用途-保护晶片表面不受污染和损坏,减少测试头的污染,并提供出色的样品均匀性和可重复性。例如，从室内抽取的空气样本可用于常规测试，以查明底物的任何问题，如微米级污染或错位，可能导致数据无效。此外,prober还包括一个可调定位器,允许它在x轴和y轴平面上同时移动测试和探头。该定位器还允许用户调整测试和探头之间的间隙距离，以提高准确性和可重复性。总体而言，Opus III prober是一个通用而全面的平台，能够对各种晶圆基板进行有效的测试和数据采集。凭借独特的CCF设计、可调定位器和专用软件,它是确保基板质量和准确性的理想解决方桉。