二手 SEMICS Opus III #293799068 待售

SEMICS Opus III是由SEMICS Techology开发的prober，专为高精度垂直探测应用而设计。该设备采用高精度垂直凋刻臂,后轴范围可扩展,可提供多种探测配置和增强的功能。该组件还允许具有一定精度和可重复性的零件旋转,使其成为晶圆级3D检查和其他精密生产过程的理想载体。该系统包括一个CMM级、9自由度的机械臂，以提高精度和快速定位。Prober提供了6微米的垂直精度，不需要双面调节，以及2微米的沉降+/-公差。此外,一触式校准和切换功能允许快速设置。OptoLinear™技术使用光学线性编码器,使机器能够确定x轴和y轴的正确位置,而无需手动调整。Prober还包括高级软件选项,例如专用的检查库。此库允许操作员快速、轻松地访问各种自动化和半自动化功能,包括模式比较、缺陷识别、统计分析、形状测量、边缘检测和框架变形分析。该单元的设计占用空间很小,可提高灵活性、轻松集成并快速部署到现有生产线中。它提供了多种定制选项,包括定制安装支架、可调行程、承载能力、定制连接器和电缆。此外,该机器还具有开放式体系结构,便于与现有软件解决方桉集成。Opus III适用于各种垂直探测解决方桉,并为降低生产成本和提高生产吞吐量提供了可靠且经济高效的解决方桉。该工具用途广泛，为模具探测和其他各种精密检测应用提供了可靠的基础。