二手 SEMICS Opus III #293799357 待售

SEMICS Opus III是由SEMICS Inc设计制造的高精度prober。用于测试和分析半导体芯片、故障、LED、光学元件和其他材料等多种样品的电气和物理特性。它配备了高度精确的晶圆静电放电（ESD）保护设备，能够检测和测量极低水平的静电电压。ESD保护系统由一个敏感的静电探针、一个绝缘单元和一个ESD监视器组成，可以测量样品表面极低水平的静电场。Prober的高精度和稳定性使得它能够测量甚至是样品特性中最微妙的变化。它还配备了高度兼容的软件套件，可以提供必要的工具来分析、控制和监控样本的特性。Opus III prober还具有集成的高功率光致发光（HLP）单元,可用于检测各种晶格结构（如III-V、II-VI和IV-VI）上的表面和地下缺陷。它还配备了多通道ESD保护机，提供对工具检测器设置的用户级控制，并允许选择不同的样本类型进行测量。另外，prober还包括多种探针来测量不同的样品特性。其中包括：开尔文探针、暗/限流探针、扫描电子显微镜（SEM）探针、光显微镜（PM）探针、干涉显微镜（IM）图像捕获探针、光发射光谱（LES）探针。为了保护样品免受外部干扰，SEMICS Opus III prober被封闭在真空室中，并由专用的专用电源供电。这样可以确保样品在测量过程中不受任何外部声波或振动的影响。此外，prober提供的软件可以为用户提供对捕获结果的详细分析。Opus III prober是专门为材料的高精度测试和分析而设计的先进prober。它具有很高的准确性、可靠性和多功能性，是各种样品类型和应用的理想选择。Prober非常适合测试各种样品类型，包括半导体、LED、复合材料和其他材料。SEMICS Opus III prober提供了一个强大的平台来测量样品的精确特性，包括晶圆和非晶圆。