二手 SEMICS Opus III #9144824 待售

SEMICS Opus III是由SEMICS Inc.开发的非接触面电测量（SEM）prober。设计用于高速测量表面电性能。适用于半导体、MEMS、LED等同类产品的量产、研发和低成本样机。Opus III由电动聚焦单元和探测显微镜提供动力。焦点单元由用于测量基板表面地形的垂直和水平电动机组成。显微镜装有一个专有的CCD相机，使操作员能够实时查看测量结果。探头的精度取决于聚焦系统的精度。SEMICS Opus III配备了PC控制的数字执行器和真空泵。执行器将主动控制的扫描探针移动到目标区域以测量样品表面。真空泵允许准确的样品定位和安全可靠的处理.Opus III的动态范围为0.5 nm至30 µm，可以以高达4 Hz的速度运行。该设备还具有自动Acousto-Optical偏转（AOD），用于高速、精确的测量。AOD与高速扫描模块配合使用,可自动控制探测器的移动。SEMICS Opus III兼具电流和电压测量放大器。它有多种操作模式，包括恒压、恒流、恒阻、峰值和电压相关电阻（VDR）。这些模式可用于各种表面电测量，如片状电阻、接触电阻、泄漏电流、击穿电压、电容和耗散因子。总体而言,Opus III是非接触式表面电气测量指示器,可提供高精度和高速度,同时保持焦点系统的准确性。凭借其自动化的AOD和多种测量模式，它是生产过程、研发和半导体、MEMS、LED等类似产品的低成本原型制作的理想工具。