二手 SEMICS Opus III #9209249 待售

SEMICS Opus III是由SEMICS开发的PROBER，一家专门从事测试和检验设备的半导体公司。该探头是一种自动测试和测量设备，用于探测和验证晶片的电气特性以进行故障分析。Opus III可以用来识别和评估各种可能影响集成电路性能的因素。该系统包括一个符合人体工程学设计的探测站和一个带有大型液晶触摸屏界面的紧凑控制器控制台。它具有2D或3D扫描、4通道电气测试以及VGA或DVI视觉检查的选择。三个独立的Z级可实现高精度x-y定位和自动晶圆调平。探测站配有两个XY轴和一个旋转级，以及一个可选的显微镜，用于更精确的检查。SEMICS Opus III能够测量功耗、泄漏电流、采样电压、定时等多个参数。其内置的Statistical Analysis软件能够记录和保存测试结果,从而确保准确的测量数据。用户还可以访问预先保存的数据以进行快速比较和质量控制。该单元能够处理各种各样的晶圆尺寸，并且可以通过其可扩展的测试平台定制到特定的应用程序。它提供了一系列的测试夹具，以适应各种晶圆尺寸，使其适用于大多数晶圆探测应用。此外，它的高速输送机，使高效和准确的样品处理。在安全方面，该工具具有行业标准的安全资产，旨在保护操作员免受安全隐患。它还内置了火灾探测和报警系统，以确保安全。此外，还设置了双激光扫描仪，以防止仪器相互碰撞。总体而言，Opus III prober是一种高效的测试和测量模型，旨在为用户提供准确可靠的测试数据。凭借其直观的设计和先进的功能，该设备为晶圆探测应用提供了经济高效的解决方桉。